英國雷尼紹適合三坐標的測頭測座分類 一、 手動測座 一系列固定的及手動可轉位測座，用于連接觸發(fā)式測頭和機器軸套，可靈活地對復雜部件進行檢測。 MH20i：適用于TP20測針模塊的可重復定位測座 MH20：適用于TP20測針模塊的定位測座 MH8：適用于M8螺紋固定測頭的可重復定位測座 MIH(S)：具有內置LCD位置顯示器的可重復定位測座 PH1：具有偏置測頭底座的定位測座 PH5/1：具有五個測頭插槽和B軸轉位的固定式測座 PH5：具有五個測頭插槽的固定式測座 PH6：具有一個測頭插槽的固定式測座 PH6M：具有自動鉸接的固定式測座二、 機動和自動測座 機動測頭能夠實現測頭的自動、可重復的重新定位，可測量工件所有表面的輪廓，提高了坐標測量機的能力，并達到最高生產力。 PH10機動可重復定位測座：可重復定位測座系列（PH10M、PH10MQ和PH10T）有軸套式安裝和測頭式安裝兩種選項 PHS1伺服測座：伺服定位測座可實現無級定位 測座和交換架控制器：測座、交換架和坐標測量機之間的接口 三、 觸發(fā)式測頭 觸發(fā)式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。 Renishaw提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數控高速機器上進行復雜輪廓測量。 TP20：具有模塊交換功能的緊湊型機械式測頭 TP200：具有模塊交換功能的緊湊型應變片式測頭 TP6(A)：具有M8和自動鉸接固定選項的堅固機械式測頭 TP7M：具有自動鉸接的應變片式測頭 OTP6M：用于檢測軟材料的光學觸發(fā)式測頭傳統(tǒng)觸發(fā)式測頭：TP2、TP1S(M) 四、 掃描測頭掃描測頭是微型測量儀器，每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發(fā)式測頭類似。 Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。 SP25M：具有掃描和觸發(fā)式模塊的25 mm直徑掃描測頭 SP600：高性能檢測、數字化和輪廓掃描 SP80：軸套安裝式掃描測頭，用長測針提供一流的性能維修RENISHAW TP20，維修RENISHAW TP200，維修RENISHAW MH20I測頭，維修PH10T測頭，維修MCP測頭，免費保修一年，大量供應三坐標測頭，三坐標測針以及維修三坐標測頭

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