三座標(biāo)平板

三坐標(biāo)平板適用于各種三坐標(biāo)檢驗(yàn)測量工作，表面附有三座標(biāo)線，方便三座標(biāo)測量，三坐標(biāo)平板可以精確測量零件的精確度和形位偏差，三坐標(biāo)平板在機(jī)械制造中是不可缺少的基本工具。三坐標(biāo)測量是指在一個(gè)六面體的空間范圍內(nèi)，能夠測量，幾何形狀、長度及圓周分度等。三坐標(biāo)測量儀可定義為“一種具有可作三個(gè)方向移動的探測器，可在三個(gè)相互垂直的導(dǎo)軌上移動，此探測器以接觸或非接觸等方式傳送訊號，三個(gè)軸的位移測量系統(tǒng)(如光學(xué)尺)經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件的各點(diǎn)坐標(biāo)(X、Y、Z)及各項(xiàng)功能測量的儀器”。三坐標(biāo)測量儀可測量高精度的幾何零件和曲面；測量復(fù)雜形狀的機(jī)械零部件；檢測自由曲面；可選用接觸式或非接觸式測頭進(jìn)行連續(xù)掃描。在三坐標(biāo)平板上測量時(shí)要注意平臺工作面要平整光滑，不可有劃痕、碰傷、銹跡、及其他影響使用的外觀缺陷。鑄造表面應(yīng)清除型砂、表面平整，涂漆牢固。各棱邊修鈍。在精度等級低于“00”級的平板工作面，對。 詳細(xì)介紹>>