XRF2000熒光鍍層測厚儀

詳細資料請電：１３７６１４００８２６韓國MicroPioneerXRF-2000系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能優(yōu)越,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度.可測元素范圍：鈦(Ti)–鈾(U)可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射線管：油冷,超微細對焦高壓：0-50KV(程控)準直器：固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.鍍液分析:可分析鍍液的主成。 詳細介紹>>