當前位置:首頁 > 機床圖片庫 > 瀏覽圖片

CAMECA阿美特克高分辨二次離子質譜儀

更新時間:2014-04-01  瀏覽數(shù):2372
  • 圖片說明
  • 圖片標簽:CAMECA,阿美特克,二次離子質譜儀
NanoSIMS50L專門針對同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針。在CAMECA各系列的二次離子質譜(SIMS)中,NanoSIMS50L因擁有很高的橫向分辨率而與眾不同。儀器設計獨特:一次離子槍與二次離子提取腔體采用光學共軸設計;而磁質譜部分也從一開始就采用多接受模式。 詳細介紹>>
  • 圖片展示

CAMECA阿美特克高分辨二次離子質譜儀

上一條:TSB13152B-3NTA
下一條:TSB07301C-2NT3
最新話題more
展會資訊more
熱門問答more
都安| 虹口区| 军事| 庆云县| 延吉市| 茶陵县| 中江县| 特克斯县| 江川县| 封丘县| 玉环县| 泽库县| 乳山市| 天气| 新泰市| 石门县| 英吉沙县| 五莲县| 二连浩特市| 高清| 昆山市| 乌审旗| 赫章县| 三亚市| 株洲县| 藁城市| 西充县| 若尔盖县| 奉节县| 贡嘎县| 鹿邑县| 伽师县| 阳新县| 揭东县| 深水埗区| 枣庄市| 章丘市| 长葛市| 天长市| 曲麻莱县| 富民县|